产品中心
您当前的位置 : 首 页 > 产品中心 > 产品中心
日置HIOKI IM3570 阻抗分析仪

日置HIOKI IM3570 阻抗分析仪

  • 所属分类:产品中心
  • 产品型号:IM3570
  • 浏览次数:
  • 发布日期:2021-11-30 11:28:30
  • 产品概述
  • 技术参数

一、产品简介

       HIOKI/日置 IM3570 阻抗分析仪,1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

(1)LCR模式下1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量

(2)基本精度±0.08%的高精度测量

(3)适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量

(4)分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

(5)可以用于无线充电评价系统TS2400

       主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。



IM3570表格.jpg

近期浏览: