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一、产品简介
HIOKI/日置 IM3570 阻抗分析仪,1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
（1）LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
（2）基本精度±0.08%的高精度测量
（3）适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
（4）分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
（5）可以用于无线充电评价系统TS2400
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
