上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
根据需求提供专属的定制
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
200MHz/100A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
35MHz/500A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
20MHz/500A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
250MHz/500A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
120MHz/500A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
7MHz/500A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
20MHz/1000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
200MHz/1000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
10MHz/2000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
70MHz/400A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
20MHz/5000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
20MHz/5000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
20MHz/5000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
20MHz/5000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
20MHz/10000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
120MHz/2000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
10MHz/5000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
7MHz/5000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
4MHz/20000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
4MHz/20000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
20MHz/2000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
20MHz/25000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
4MHz/50000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
15MHz/20000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
2MHz/50000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
1.5MHz/200000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
1.5MHz/100000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
2MHz/200000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
1.2MHz/500000A
上升时间短至2纳秒
具有双重屏蔽功能,以提高抗噪能力
0.2MHz/500000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
200MHz/500A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
25MHz/500A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
150MHz/500A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
25MHz/500A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
30MHz/500A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
400MHz/15A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
25MHz/500A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
7MHz/500A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
18MHz/1000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
12MHz/1000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
20MHz/5000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
15MHz/5000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
15MHz/5000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
7MHz/5000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
4MHz/5000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
3MHz/50000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
2MHz/50000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
2MHz/50000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
2MHz/50000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
1.5MHz/50000A
两部分组成,可以分开夹住被测导体
高于±1%的测试精度
1.5MHz/200000A