一、半导体动态参数测试系统概述：

        半导体动态参数测试系统是满足IEC60747-8/9、JESD24标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场合。特别对于应用第三代半导体的需要，拥有着较高的系统带宽，可以有效的测量出实际的器件参数。

二、系统组成

       半导体动态参数测试系统动态参数分析仪，主要包括PC、示波器、低压源、高压直流源、探头以及相关测试配件等构成。半导体测试系统采用12bit示波器，可正确反应波形细节和参数的准确计算，且具备高带宽的电压和电流探测特点，能满足SiC/GaN的测量要求，同时可以满足上/下管测试要求，可避免频繁连接探头。该系统测量参数齐全，且支持多种器件类型。

三、主要应用

（1）功率半导体的来料检验

（2）功率半导体的动态参数验证

（3） 实验室的器件评估

（4）功率半导体的⽣产检验和筛选

（5） 实验室的驱动设计改善

（6）实验室的PCB设计评估

四、硬件优势:
1、采用全球首先发布的12bit示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数
2、采用全球首先发布的光隔离、高CMRR探头系统，解决SIC\GAN的测试难点
3、高带宽的电压和电流探测，弥补一般系统对SIC/GAN的测量要求
4、可以满足上/下管测试，避免频繁连接探头
5、电压覆盖范围宽、并可以再次扩展
6、器件驱动设计支持SIC/GAN器件
7、系统带宽：>400MHz
8、系统可以定制

五、软件特点：
1、测量参数齐全：开关参数、短路参数、反向恢复 参数
2、支持器件类型多：单管/模块，MOSFET、IGBT、 FWD、GTR…
3、测试方式：单脉冲、多脉冲
4、离线数据分析：既可以在线测量，也可以记录数据 离线分析
5、测试UI符合工程师的使用习惯
6、测量项目及器件支持扩展

（1）软件界面

（2）示波器界面

（3）测量功能

          半导体动态参数测试系统软件可测量开关参数、反向恢复参数、栅极电荷、短路参数、雪崩能量.

（4）模块/单管驱动、测试板

六、采集系统的主要工具主要特点

（1）带宽500MHz、1000MHz

（2）较佳系统精度 1.5%

（3）达160 dB CMRR光隔离探

（4）12位示波器的精密增益校准保证较佳的结果

七、测试项目

八、双脉冲测试法

       双脉冲测试法可以测试IGBT模块和驱动的性能，获取 IGBT 稳态和暂态过程中的主要参数，用以评估IGBT 模块和驱动的性能，并进行电路参数的优化。

       具体包括测试 IGBT 的实际工况、开关损耗、关断电压尖峰、开关暂态震荡情况、二极管反向恢复电流、杂散电感影响、吸收电路影响、 短路保护功能等， 可以通过测试进行优化栅极电阻 RG_ON 和 RG_OFF 参数、吸收电路参数、开关频率设置等，并可以进行 IGBT 模块的并联和串联实验。

九、半导体动态参数测试系统采用全球首先发布的12bit示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数：